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Anwendungsbeispiele

Darstellung von Oberflächen

Das Rasterelektronenmikroskop dient zur Darstellung von Oberflächen. Dies wird mit Hilfe von Sekundärelektronen erreicht.Von kleinen Vergrößerungen (40-fach) mit großer Tiefenschärfe bis hin zu 100.000-facher Vergrößerung können Oberflächen abgebildet werden.

Darstellung von Materialkontrasten

Im Rückstreuelektronenbild werden Materialien, die aus chemisch schweren Elementen bestehen, heller dargestellt. Chemisch leichte Materialien bleiben dunkler.

 

Elementverteilungskarten

Die qualitative und quantitative Verteilung der chemischen Elemente (von Bor bis Uran) in der Fläche kann mit Hilfe des energiedispersiven Systems dargestellt werden. Chemische Zonarbauten von Mineralen und Inhomogenitäten in Legierungen können damit sichtbar gemacht werden.

Partikelanalyse

Die mikroanalytische Partikelanalyse kann bei einer Probe, die aus vielen Einzelkörnern besteht, diese einzeln erfassen und qualitativ und quantitativ bestimmen. In Kombination mit der energiedispersiven Analyse können auf diese Weise detaillierte genaue chemische Partikelbestimmungen erstellt werden.

Die erfassbaren Partikel können dabei bis zu wenigen mm groß sein. Aber auch Partikel, die deutlich weniger als einen Mikrometer groß sind, können erfasst und kategorisiert werden.

Kontakt

Meyer-Mikroanalyse
Dr. Hans-Peter Meyer
Römerring 45
D-76768 Berg (Pfalz)

info@mikroanalyse.de
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